• الرئیسیة
  • البحث المتقدم
  • قائمة المکتبات
  • إختر اللغة
    • فارسی
    • English
    • العربی

عنوان
The role of microscopy in semiconductor failure analysis

پدید آورنده
Richards, B. P.

موضوع
Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes

رده
TK
7871
.
85
.
R464

کتابخانه

محل استقرار
استان: طهران ـ شهر: طهران



تماس با کتابخانه : ۶۶۴۰۷۴۱۸(۰۲۱) – ۶۴۵۴۲۳۴۹(۰۲۱)

CE

Richards, B. P.
The role of microscopy in semiconductor failure analysis

Oxford
Oxford University Press
1992

vi, 108 p. : ill

Oxford science publication

Includes bibliographical references )p. ]98[-101( and index

Semiconductors - Testing
Semiconductors - Failures
Microscopes

TK
7871
.
85
.
R464

AU
B.P. Richards and P.K. Footner

English

الاقتراح / اعلان الخلل

تحذیر! دقق في تسجیل المعلومات
ارسال عودة
تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال