عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TA 417 .23 .B73 2008
TA
417
.
23
.
B73
2008
کتابخانه
محل استقرار
Microstructural characterization of materials
Chichester, England
Wiley
c2008
xiv, 536 p. : ill. )some col.(
Quantitative software engineering series
Includes bibliographical references and index
David Brandon and Wayne Kaplan
Microscopy ، Materials
، Microstructure
TA
417
.
23
.
B73
2008
Brandon, D. G.
AU
AU Kaplan, Wayne D.
TI
