عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Scince
پدید آورنده
/ David B. Williams
موضوع
رده
TA
417
.
23
.
W55
1984
کتابخانه
مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
88225387
-
021
IR
36133
انگلیسی
IR
Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Scince
[Book]
/ David B. Williams
146 p.
: illus
; 28cm
Includes bibliographical references and index
TA
417
.
23
.
W55
1984
Iran
University of Tehran. Library of Technical Camp 2
Old cataloging
p
BL
1
Y
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح