عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874.75 .L35 1997
TK
7874
.
75
.
L35
1997
کتابخانه
محل استقرار
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Digital circuit testing and testability
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
San Diego
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Academic Press
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1997
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xii, 199 p. : ill. ; 24 cm
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
Parag K. Lala
یادداشت های مربوط به نسخه اصلی
متن يادداشت
1
متن يادداشت
2
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration
عنصر شناسه ای
Testing ، Digital integrated circuits
عنصر شناسه ای
، Integrated circuits - Fault tolerance
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
.
75
.
L35
1997
سایر رده بندی ها
شماره رده
CA
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Lala, Parag K.
کد نقش
AU
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
TI
