نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Advances in surface and thin film diffraction : symposium held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A.
پدید آورنده
editors, Ting C. Huang, Philip I. Cohen, David J. Eaglesham
موضوع
Congresses ، Thin films -- Surfaces,Optical properties -- Congresses ، Thin films,Congresses ، Diffraction
رده
QC
176
.
84
.
S93
A38
1991
کتابخانه
كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران
محل استقرار
استان:
تهران
ـ شهر:
تهران
تماس با کتابخانه :
61112616
-
66495290
-
021
شناسگر استاندارد دیگر
شماره استاندارد
60053/1
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
English
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Advances in surface and thin film diffraction : symposium held November 27-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Pittsburgh, Pa.
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Materials Research Society
تاریخ نشرو بخش و غیره
c1991
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xiii, 367 p. : ill. ; 24 cm
فروست
عنوان فروست
Materials Research Society symposium proceedings,2720-2719
شاپا ي ISSN فروست
v. 208
يادداشت کلی
متن يادداشت
Includes bibliographical references and indexes.
یادداشتهای مربوط به عنوان و پدیدآور
متن يادداشت
editors, Ting C. Huang, Philip I. Cohen, David J. Eaglesham
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
عنصر شناسه ای
Congresses ، Thin films -- Surfaces
عنصر شناسه ای
Optical properties -- Congresses ، Thin films
عنصر شناسه ای
Congresses ، Diffraction
رده بندی کنگره
شماره رده
QC
176
.
84
.
S93
A38
1991
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
کد نقش
TI
نام / عنوان به منزله شناسه افزوده
عنصر شناسه اي
AU .C gniT ,gnauH ed.
عنصر شناسه اي
AU .I pilihP ,nehoC ed.
عنصر شناسه اي
AU .J divaD ,mahselgaE ed.
عنصر شناسه اي
CO Materials Research Society.
عنصر شناسه اي
SE
عنصر شناسه اي
SE Materials Research Society symposia proceedings ;
شماره دستیابی
نحوه قرار گرفتن مدرك روي قفسه
که فیزیه دانشکدانابخکت
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد