عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7871.99.M44
TK7871
.
99
.
M44
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
1461479088
شابک
1461479096
شابک
9781461479086
شابک
9781461479093
شابک اشتباه
9781461479086
شماره کتابشناسی ملی
شماره
dltt
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Bias temperature instability for devices and circuits
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
Tibor Grasser, editor
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
New York :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Springer,
تاریخ نشرو بخش و غیره
2014
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (805 pages)
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
عنوان
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits.
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9781461479086
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7871
.
99
.
M44
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Grasser, Tibor
نام تنالگان _ (مسئولیت معنوی برابر)
مستند نام تنالگان تاييد نشده
Ohio Library and Information Network
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20210107074157.0
قواعد فهرست نويسي ( بخش توصيفي )
pn
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
کد کاربرگه
270410
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
