عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK7895.E42 K45 2007eb
TK7895
.
E42
K45
2007eb
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
1580537103
شابک
9781580537100
شابک اشتباه
158053709X
شابک اشتباه
9781580537094
شماره کتابشناسی ملی
شماره
b744182
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices /
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
Joe Kelly, Michael Engelhardt.
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston :
نام ناشر، پخش کننده و غيره
Artech House,
تاریخ نشرو بخش و غیره
©2007.
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
1 online resource (xx, 301 pages) :
ساير جزييات
illustrations.
فروست
عنوان فروست
Artech House microwave library
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
یادداشتهای مربوط به مندرجات
متن يادداشت
Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices; Contents vii; Preface xvii; Acknowledgments xix; 1 Concepts of Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices 1; 2 Tests and Measurements I: Fundamental RF Measurements; 3 Tests and Measurements II: Distortion 35; 4 Tests and Measurements III: Noise 59; 5 Advances in Testing RF and SoC Devices 97; 6 Production Test Equipment; 7 Cost of Test 139; 8 Calibration 159; 9 Contactors 175; 10 Handlers 201; 11 Load Boards 221; 12 Wafer Probing 253; Appendix A Power and Voltage Conversions 265
متن يادداشت
Appendix B VSWR, Return Loss, and Reflection Coefficient 271Appendix C RF Coaxial Cables 275; Appendix D RF Connectors 277; Appendix E Decimal to Hexadecimal and ASCII Conversions 283; Appendix F Numerical Prefixes 287; About the Authors 289; Index 291
بدون عنوان
0
بدون عنوان
8
یادداشتهای مربوط به خلاصه یا چکیده
متن يادداشت
Featuring invaluable input from industry-leading companies and highly-regarded experts in the field, this first-of-its kind resource offers experienced engineers a comprehensive understanding of the advanced topics in RF, SiP (system-in-package), and SoC (system-on-a-chip) production testing that are critical to their work involving semiconductor devices. The book covers key measurement concepts for semiconductor device testing and assists engineers in explaining these concepts to management to aid in the reduction of project cost, time, and resources. Based on real-world experience and packed with time-saving equations, this in-depth volume offers professionals practical information on essential topics that have never been presented in a single reference before.
ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه
عنوان
Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices.
شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
9781580537094
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Systems on a chip-- Testing.
موضوع مستند نشده
TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- General.
موضوع مستند نشده
TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Integrated.
مقوله موضوعی
موضوع مستند نشده
TEC-- 008010
موضوع مستند نشده
TEC-- 008020
رده بندی ديویی
شماره
621
.
3815
ويراست
22
رده بندی کنگره
شماره رده
TK7895
.
E42
نشانه اثر
K45
2007eb
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Kelly, Joe,Ph. D.
نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Engelhardt, M., (Michael)
مبدا اصلی
تاريخ عمليات
20201204043720.0
قواعد فهرست نويسي ( بخش توصيفي )
pn
دسترسی و محل الکترونیکی
نام الکترونيکي
مطالعه متن کتاب اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
[Book]
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
