عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .B484 1990
TK
7874
.
B484
1990
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0-7923-9058-x
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
79747
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ by Debashis Bhattacharya, John P. Hayes
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston, Dordrecht
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 1990
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
x, 159p.
ساير جزييات
: ill.
ابعاد
; 24 cm
فروست
عنوان فروست
The Kluwer international series in engineering and computer science. VLSI, computer architecture and digital signal processing
يادداشت کلی
متن يادداشت
انگليسي
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references (p.[147] - 155) and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Integrated Circuits -- Vey large scale integration -- Testing
موضوع مستند نشده
Integrated Circuits -- Vey large scale integation -- Computer simulation
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
نشانه اثر
.
B484
1990
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
عنصر شناسه اي
Bhattacharya
ساير عناصر نام
, Debashis
کد نقش
, author
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
عنصر شناسه اي
Hayes
ساير عناصر نام
, John P (John Patrick)
تاريخ
, 1944-
مبدا اصلی
کشور
Iran
سازمان
Central Library Of Tehran University
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
Old cataloging
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
