نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
انتخاب زبان
فارسی
English
العربی
عنوان
Microelectronic test structures for CMOS technology
پدید آورنده
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
موضوع
Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده
TK
,
7871
.
99
,.
M44
,
B49
,
2011
کتابخانه
كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران
محل استقرار
استان:
خوزستان
ـ شهر:
اهواز
تماس با کتابخانه :
33360244
-
061
شابک
شابک
9781441993762
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
ebook43672
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
Microelectronic test structures for CMOS technology
نام عام مواد
[Electronic Resource]
نام نخستين پديدآور
/ Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
xxxiv, 373 pages
ساير جزييات
: illustrations ; 24 cm
یادداشتهای مربوط به نشر، بخش و غیره
متن يادداشت
e
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index.
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Metal oxide semiconductors, Complementary--Testing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
,
7871
.
99
,.
M44
,
B49
,
2011
نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Bhushan, Manjul
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Ketchen, Mark B
مبدا اصلی
کشور
ایران
شماره دستیابی
شماره بازیابی
TK,7871.99,.M44,B49,2011
دسترسی و محل الکترونیکی
تاريخ و ساعت مذاکره و دسترسي
9781441993762.pdf
نوع فرمت الکترونيکي
0
نوع فرمت الکترونيکي
0
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
old catalog
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
e
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
سطح دسترسي
a
تكميل شده
Y
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد