عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
TK 7874 .I3223 1993
TK
7874
.
I3223
1993
کتابخانه
محل استقرار
شابک
شابک
0792393155
شماره کتابشناسی ملی
کد کشور
IR
شماره
11003
زبان اثر
زبان متن نوشتاري يا گفتاري و مانند آن
انگلیسی
کشور محل نشر یا تولید
کشور محل نشر
IR
عنوان و نام پديدآور
عنوان اصلي
IDDQ testing of VLSI circuits
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
/ edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
وضعیت نشر و پخش و غیره
محل نشرو پخش و غیره
Boston
نام ناشر، پخش کننده و غيره
: Kluwer Academic Publishers
تاریخ نشرو بخش و غیره
, 1993
مشخصات ظاهری
نام خاص و کميت اثر
120 p.
ساير جزييات
: ill.
ابعاد
; 27 cm
فروست
عنوان فروست
Frontiers in electronic testing
يادداشت کلی
متن يادداشت
English
متن يادداشت
A Special issue of Journal of electronic testing: theory and applications
متن يادداشت
Reprinted from Journal of electronic testing: theory and applications, vol. 3, no. 4
متن يادداشت
DDQ is subscript in IDDQ in title; testing method also known as quiescent current testing
یادداشتهای مربوط به کتابنامه ، واژه نامه و نمایه های داخل اثر
متن يادداشت
Includes bibliographical references and index
موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)
موضوع مستند نشده
Integrated circuits - Very large scale integration - Testing
موضوع مستند نشده
Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing
موضوع مستند نشده
Iddq testing
رده بندی کنگره
شماره رده
TK
7874
نشانه اثر
.
I3223
1993
نام شخص - ( مسئولیت معنوی درجه دوم )
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Gulati, Ravi K.
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Hawkins, Charles F.
مبدا اصلی
کشور
Iran
سازمان
University of Tehran. Library of Technical Camp 2
وضعیت فهرست نویسی
وضعیت فهرست نویسی
Old cataloging
وضعیت انتشار
فرمت انتشار
p
اطلاعات رکورد کتابشناسی
نوع ماده
BL
پیشوند ISBD اعمال شده است
1
اطلاعات دسترسی رکورد
تكميل شده
Y
